Détecteur photoélectrique laser M18 VTE180 portée 500mm mode réflexion directe avec atténuation d'arrière-plan PNP M12 4P Sick
Détecteur photoélectrique laser M18 VTE180 portée 500mm mode réflexion directe avec atténuation d'arrière-plan PNP M12 4P Sick
Norme CE
UL - Certifications US/CanadaCULUS

Détecteur photoélectrique laser M18 VTE180 portée 500mm mode réflexion directe avec atténuation d'arrière-plan PNP M12 4P Sick

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Détecteur photoélectrique M18 VTE180 portée 500 mm réflexion directe PNP M12 4 p Sick

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1407003
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6041807
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Description

Description
Portée : 350mm.
Mode de fonctionnement : Réflexion directe avec atténuation d'arrière-plan.
Commutation : Claire/Sombre.
Sortie : PNP.
Raccordement : M12 4P .

• Commutation sombre ou claire
• Réglage de la sensibilité par potentiomètre 270°

Principe de fonctionnement :
L’émetteur et le récepteur sont logés dans le même boîtier. La réflexion de la lumière d’un objet est détectée et entraîne la commutation du détecteur. La portée dépend ainsi du pouvoir de réflexion de l’objet

.

Caractéristiques

Caractéristiques
SérieVTE180
Indice de protectionIP67
Matière du boitierMétal
Type de boitierCylindrique fileté M18
Portée max (mm)500
Type de raccordementM12, 4 pôles
Type de sortiePNP
Configuration des contactsCommutation claire/sombre
Principe de détectionA réflexion directe
Norme CE Oui
UL - Certifications US/Canada CULUS

Avis clients

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Sick
Détecteur photoélectrique laser M18 VTE180 portée 500mm mode réflexion directe avec atténuation d'arrière-plan PNP M12 4P
1407003
Image n°1
Portée : 350mm.<br />Mode de fonctionnement : Réflexion directe avec atténuation d'arrière-plan.<br />Commutation : Claire/Sombre.<br />Sortie : PNP.<br />Raccordement : M12 4P .<br /><br />• Commutation sombre ou claire<br />• Réglage de la sensibilité par potentiomètre 270°<br /><br />Principe de fonctionnement : <br />L’émetteur et le récepteur sont logés dans le même boîtier. La réflexion de la lumière d’un objet est détectée et entraîne la commutation du détecteur. La portée dépend ainsi du pouvoir de réflexion de l’objet<br /><br />.
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